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半自動四探針觸屏測試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量;選擇性發(fā)射極擴散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結(jié)擴散片;新型電極設計,如電鍍銅電阻測量等;半導體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽能電池,LCD,OLED,觸摸屏等.
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